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广立微亮相ICDIA2025:以AI驱动良率提升展示领先的良率管理产品矩阵

  

广立微亮相ICDIA2025:以AI驱动良率提升展示领先的良率管理产品矩阵

  、超异构计算RISC-V生态、5G射PG电子官方平台入口频/6G半导体、AloT与边缘计算、智能汽车与自动驾驶,分享前沿

  作为国内领先的集成电路EDA软件与晶圆级电性测试设备供应商,广立微301095)携全线创新产品及解决方案重磅参展,成为展会焦点。其中广立微的YAD、SemiMindPG电子官方平台入口等最新研发成果吸引了来自产业链上下游的专家、学者及企业代表的广泛关注。

  广立微新发布的 YAD (Yield Aware Diagnosis)作为一款专业良率分析与提升工具,因其深耕于 DFT(可测性设计)与良率分析领域,并可以赋能半导体设计与制造企业高效完成良率分析及根因定位,构建从芯片设计诊断到量产良率提升的全流程分析闭环,进而缩短良率优化周期、降低生产成本,吸引众多专业观众前来咨询。

  在展会现场热烈的交流氛围中,广立微技术团队详细讲解了YAD的核心功能与价值。YAD全面满足产品和测试工程团队的需求,借助大数据驱动的智能诊断引擎,贯通设计、测试诊断与制程监控全流程,提升溯源效率与根因定位精度。值得注意的是,YAD已在多个客户的实际案例中得到验证,并获得高度认可。展会现场广立微技术专家从提升分析效率、提高根因分析准确率、识别隐藏系统性设计问题、多维度数据分析与验证、高度智能自动化5点客户价值的维度为前来咨询的观众逐一展开讲解。

  除了YAD这一明星产品,广立微旗下的SemiMind半导体大模型平台,是一个 “知识库+智能体” 驱动的 AI研发基座。它接入了DeepSeek-R1等大模型,并深度协同,构建了一个开放、灵活、可扩展的智能研发生态系统。区别于目前通用型大语言模型平台,广立微SemiMind不仅能提供私有化知识库搭建,还可以结合自身业务理解,落地多个半导体专业智能体,包括设计智能体– Design Rule形成及检查;测试智能体–测试方案自动形成;良率分析智能体– YMS/DMS系统自主分析等。

  在半导体产业高速发展、技术革新浪潮奔涌的时代背景下,广立微始终将客户成功作为创新原点,以客户需求为核心,持续深耕良率提升领域。依托领先的技术积淀与深厚的行业洞察,我们正加速推进全产业链协同创新,通过前瞻性战略布局和自主研发突破,为合作伙伴提供更高阶的解决方案!