金融界2025年8月18日消息，国家知识产权局信息显示，和林电子（深圳）有限公司申请一项名为“一种多针电气性能测试治具”的专利，公开号CN120490548A，申请日期为2025年05月。

　　专PG电子利摘要显示，本申请涉及电子测试设备技术领域，尤其是涉及一种多针电气性能测试治具。其包括具有待测品插接口的外壳体以及位于外壳体内的测试机构，测试机构包括弹片抵接组件、弹片夹紧组件和弹片组件，弹片抵接组件包括固定件、摆杆和舌片，当待测品插入插接口时，待测品抵接撑开摆杆并一同推动舌片往插接口移动以撑开弹片组件，完成弹片与待测品的电接触。

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